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詳細介紹
6.35mm單點反射測量支架
單點反射測量支架是一個探頭支架，用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量。 這一探頭支架適于固定直徑達6.35mm的光學探頭和其它取樣設備，可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行，調節高度可達63.5mm。反射臺是電鍍臺面，表面刻有同心圓以確定直徑，用于放置圓形樣品。
單點反射測量支架是一個探頭支架，用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量。 這一探頭支架適于固定直徑達6.35mm的光學探頭和其它取樣設備，可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行，調節高度可達63.5mm。反射臺是電鍍臺面，表面刻有同心圓以確定直徑，用于放置圓形樣品。
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