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IMPAC MIKRON M315X黑體輻射源/*校正器

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更新時間：2025-01-08 07:39:11瀏覽次數：30次

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達興昌科技（深圳）有限公司

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產品簡介

M 315 X （X4, X6, X8, X12）
Large area sources for calibrating thermal imaging systems, aerial mapping / surveillance equipment and spectrophotometers.
（Ambient +5） ... 400°C

詳細介紹

M 315 X （X4, X6, X8, X12）

Large area sources for calibrating thermal imaging systems, aerial mapping / surveillance equipment and spectrophotometers.
（Ambient +5） ... 400°C

Heated emitter shape:
Thermally uniform plate

Emissivity:
effective = 1.00
at 8...14 µm
（For emissivities of other wavelength temperature correction tables are available）

Standard calibration method:
pyrometric
（Large area calibration sources with temperatures up to 400°C can optionally be calibrated thermometrically.）

Surface area:
M 315 X4: 101 x 101 mm
M 315 X6: 152 x 152 mm
M 315 X8: 204 x 204 mm
M 315 X12: 305 x 305 mm

Temperature uncertainty:
1°C （<100°C） to 1.3°C （at 400°C）

Average warm-up time:
60 min （to 400°C）

Dimensions [mm] （HxD） / Weight:
X4: 280 x 254 x 280 to X12: 510 x 660 x 585
Controller module: 178 x 483 x 593