半導體芯片是當代電子設備中的核心組件之一。無論是計算機、手機、平板電腦還是智能家居，都離不開這些關鍵的芯片。然而，由于芯片的制造過程異常復雜，為了確保芯片的質量和可靠性，需要做各種測試。其中，推拉力測試是一項非常重要的測試之一。國產芯片測試機器元器件推力機

半導體芯片推拉力測試機是一種用于測試和評估半導體芯片的強度和耐久性的機器。它可以通過施加推拉力來模擬芯片在實際使用中可能遭受的壓力，以確保芯片在長時間使用過程中不會出現故障或損壞。國產芯片測試機器元器件推力機

      半導體推力測試儀作為一種物理力學性能測試的設備，具備廣泛的測試能力，快速和簡單的設置，安裝在靠近測試頭位置，以幫助更快地測試，提高了測試自動化。標準的XY平臺為160mm，可滿足范圍廣泛的測試需要，XY平臺也可定制。采用直流伺服電機和調速系統集成結構，驅動正時皮帶減速機構，減速后驅動桿加載。電氣部分包括負荷測量系統和變形測量系統。所有控制參數和測量結果都可以在大屏幕液晶屏上實時顯示。具有過載保護、位移測量等功能。

產品特點：

1.采用精密動態傳感采集技術，確保測試數據的精度的真實性。

2.三軸運動平臺，雙搖桿控制機器操作簡單快捷。

3.采用3D立體傳感技術，自動測試功能保證測試精度及數據準確性。

4.只需手動更換相對應的測試頭即可實現推力及拉力測試功能。

產品參數：

設備型號：LB-8000D

測試精度：±0.25%

測試范圍：推力0-5000克（可根據客戶，配置不同傳感器）

工作方式：推針及拉針180度垂直與測試產品接觸，確保數據的準確性

外型尺寸：長：500mm寬：550mm高：440mm

傳感器更換方式：手動

操作系統：控制系統+Windows操作界面

平臺夾具：機臺可共用各種夾具，夾具可360度旋轉

X軸行程：75mm

X軸分辨率：±0.002mm

Y軸行程：75mm

Y軸分辨率：±0.002mm

Z軸行程：75mm

乙軸分辨率：±0.001mm

重量：35kg

功率：300W(MAX)

電源：220V±5%