托普云農研發生產的植物冠層分析儀，它可測量葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透光率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度下的消光系數、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析及農業科研工作。
   任何物質都具有發射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每種物質內部成分相應的敏感波段光譜輻射的吸收、發送或反射特性，間接確定該物質的特性或組成成分。在實際應用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區電磁波譜的某些波段。此波段區域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發射率差異。400-900納米的可見/近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區的長波波段可以用于估計植物的生理參數與生物化學成份等信息。
   植物冠層分析儀采用冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀都是采用的原理，在上述原理下，植物冠層分析儀采用的是對冠層下測量冠層孔隙率方法，該方法是各類方法中精確和省力、省時、快捷方便的方法。
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