導波雷達料位計
型號：MH51…56
原理
導波雷達料位計發出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由于介電常數突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。容器中存在兩種不同介質，當上面一層的介質介電常數較小，而下面的介質介電常數較大時，高頻微脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質時，由于其介電常數較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質繼續向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質的介電常數較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質的介面，其測量條件是上層介質不導電或其介電常數比下層介質介電常數小10以上。
◎ 應 用： 液體及固體測量，復雜過程條件。
◎ zui大量程： 30m
◎ 測量精度： ±10mm
◎ 過程連接： G1½A/G2A/1½NPT
◎ 探測組件材料： 不銹鋼316L /PTFE
◎ 過程溫度： -40…150°C
◎ 過程壓力： -1.0…40bar
◎ 信號輸出： 兩線制 4…20mA/HART
